臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。

保障膜厚儀測(cè)量顯示值準(zhǔn)確性必要懂得以下小技巧

基體金屬特性

不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。